Overview
高性能的集成驗(yàn)證平臺(tái)快速而輕易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)芯片的設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，使芯片設(shè)計(jì)一次成功。
綜述
Synopsys Discovery驗(yàn)證平臺(tái)的Smart RTL驗(yàn)證解決方案，能夠滿足實(shí)現(xiàn)芯片設(shè)計(jì)一次成功的要求。由于緊密集成了一流的技術(shù)，該解決方案讓設(shè)計(jì)人員能夠輕而易舉地找出設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，顯著提高設(shè)計(jì)方案的質(zhì)量。
主要優(yōu)勢(shì)
- 在單一產(chǎn)品中，提供了高性能和大容量的仿真、先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)自動(dòng)化、斷言驗(yàn)證、覆蓋率分析以及對(duì)SystemVerilog語(yǔ)言的支持。
- 是能夠在短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)更多設(shè)計(jì)錯(cuò)誤的高效解決方案
- 采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)，確保您在驗(yàn)證方面的投資回報(bào)
– Leda RTL Checker
– MVRC
– Magellan Hybrid Formal
– MVSIM
– Pioneer-NTB SystemVerilog Testbench
– VCS RTL Verification
– Vera Testbench Automation