ESP_CV是全定制電路設(shè)計(jì)中用于功能驗(yàn)證的解決方案。ESP-CV可對(duì)存儲(chǔ)器電路和復(fù)雜的數(shù)據(jù)線宏單元進(jìn)行行為級(jí)與晶體管級(jí)之間的比較。

主要優(yōu)點(diǎn)：

• 增強(qiáng)設(shè)計(jì)可靠性和質(zhì)量

• 滿足功能驗(yàn)證覆蓋率要求

• 提高功能驗(yàn)證效率

• 消除對(duì)建立可綜合的子模塊模型的需求

• 不受晶體管級(jí)至門級(jí)電路抽象要求的限制

• 采用獨(dú)有技術(shù)，為全定制電路的設(shè)計(jì)驗(yàn)證提供更高的精度

• 考慮時(shí)序和信號(hào)強(qiáng)度對(duì)功能的影響