（自動測試向量生成）
TetraMAXTMATPG自動生成高質(zhì)量的生產(chǎn)測試向量，業(yè)界領(lǐng)先的性能，支持大容量的設(shè)計且易于使用。TetraMAX為DFT(Design for Test)工程師提供了一系列強大的功能，包括完全的芯片測試規(guī)則檢查，測試向量生成，分析，故障紡真，失效診斷。這些功能都被整合到一個強大的圖形用戶界面中，當(dāng)然也提供命令行方式，同時還有完善的在線幫助。TetraMAX可支持多種設(shè)計風(fēng)格和測試方法，包括多時鐘電路，門控時鐘電路，內(nèi)部三態(tài)總線，內(nèi)嵌存儲器，無掃描邏輯和其他復(fù)雜的設(shè)計風(fēng)格。TetraMAX結(jié)合了高性能和完善的測試能力以及無法比擬的易用性使得DFT工程師在面對那些大型的富有挑戰(zhàn)性的設(shè)計時也能迅速創(chuàng)建高效緊湊的測試方案。
● 用緊湊的高質(zhì)量的測試向量來提高產(chǎn)品的質(zhì)量
● 用先進的測試向量壓縮技術(shù)來降低你的測試成本
● 與Synopsys DFT Compiler結(jié)合提高設(shè)計工程師的生產(chǎn)效率
● 支持復(fù)雜的數(shù)百萬門級設(shè)計的自動測試
TetraMAX DSM Test（時序相關(guān)測試）
目前在設(shè)計中將近一半的生產(chǎn)缺陷都是與時序相關(guān)的，這些缺陷若不通過專門針對延時缺陷的檢測是很難被發(fā)現(xiàn)的。TetraMAXTMDelay Test提供了一種專門針對延時測試的基于掃描結(jié)構(gòu)的方法。TetraMAX Delay Test提供可預(yù)見的可控制的延時故障覆蓋率，并確保和低成本的測試儀兼容。TetraMAX Delay Test讓設(shè)計師們可以輕松地為大部分常見的時序相關(guān)缺陷產(chǎn)生測試向量，包括傳輸延時模型，路徑延時模型。而且TetraMAX Delay Test與Synopsys公司的Prime Time工業(yè)界頂尖的靜態(tài)時序分析工具配合，進一步增強了TetraMAX Delay Test和其他工具的協(xié)同工作能力。
● 大大提高測試質(zhì)量
● 支持結(jié)構(gòu)化的基于掃描的延時測試
● 提供了可預(yù)見的可控制的延時故障覆蓋率
● 和低成本的測試儀兼容