ESP_CV是全定制電路設(shè)計中用于功能驗證的解決方案。ESP-CV可對存儲器電路和復(fù)雜的數(shù)據(jù)線宏單元進行行為級與晶體管級之間的比較。

主要優(yōu)點：

• 增強設(shè)計可靠性和質(zhì)量

• 滿足功能驗證覆蓋率要求

• 提高功能驗證效率

• 消除對建立可綜合的子模塊模型的需求

• 不受晶體管級至門級電路抽象要求的限制

• 采用獨有技術(shù)，為全定制電路的設(shè)計驗證提供更高的精度

• 考慮時序和信號強度對功能的影響