(自動測試向量生成)
TetraMAXTMATPG自動生成高質量的生產測試向量,業(yè)界領先的性能,支持大容量的設計且易于使用。TetraMAX為DFT(Design for Test)工程師提供了一系列強大的功能,包括完全的芯片測試規(guī)則檢查,測試向量生成,分析,故障紡真,失效診斷。這些功能都被整合到一個強大的圖形用戶界面中,當然也提供命令行方式,同時還有完善的在線幫助。TetraMAX可支持多種設計風格和測試方法,包括多時鐘電路,門控時鐘電路,內部三態(tài)總線,內嵌存儲器,無掃描邏輯和其他復雜的設計風格。TetraMAX結合了高性能和完善的測試能力以及無法比擬的易用性使得DFT工程師在面對那些大型的富有挑戰(zhàn)性的設計時也能迅速創(chuàng)建高效緊湊的測試方案。
● 用緊湊的高質量的測試向量來提高產品的質量
● 用先進的測試向量壓縮技術來降低你的測試成本
● 與Synopsys DFT Compiler結合提高設計工程師的生產效率
● 支持復雜的數(shù)百萬門級設計的自動測試
TetraMAX DSM Test(時序相關測試)
目前在設計中將近一半的生產缺陷都是與時序相關的,這些缺陷若不通過專門針對延時缺陷的檢測是很難被發(fā)現(xiàn)的。TetraMAXTMDelay Test提供了一種專門針對延時測試的基于掃描結構的方法。TetraMAX Delay Test提供可預見的可控制的延時故障覆蓋率,并確保和低成本的測試儀兼容。TetraMAX Delay Test讓設計師們可以輕松地為大部分常見的時序相關缺陷產生測試向量,包括傳輸延時模型,路徑延時模型。而且TetraMAX Delay Test與Synopsys公司的Prime Time工業(yè)界頂尖的靜態(tài)時序分析工具配合,進一步增強了TetraMAX Delay Test和其他工具的協(xié)同工作能力。
● 大大提高測試質量
● 支持結構化的基于掃描的延時測試
● 提供了可預見的可控制的延時故障覆蓋率
● 和低成本的測試儀兼容