(定制設(shè)計的晶體管級靜態(tài)時序分析解決方案)
隨著工藝尺寸達(dá)到90納米(nm)及以下尺寸,會出現(xiàn)許多影響時序的納米效應(yīng)。要精確地分析這些效應(yīng),需要我們能夠識別出真正的時序問題。Synopsys?的NanoTime工具屬于下一代的晶體管級靜態(tài)時序分析解決方案,這個方案解決了與定制設(shè)計相關(guān)的信號完整性(SI)分析方面的新挑戰(zhàn)。NanoTime提供了并發(fā)的時序和SI分析,其精確度在HSPICE?的5%以內(nèi),而且分析復(fù)雜晶體管電路所需執(zhí)行時間大為縮短。這個方案能夠與Synopsys的PrimeTime產(chǎn)品完美集成,可對包含了門級電路和晶體管級模塊的設(shè)計方案進(jìn)行全芯片分析。NanoTime是Synopsys的定制設(shè)計驗(yàn)證解決方案中的一個關(guān)鍵組成部分,其它解決方案包括了用于電路仿真的NanoSim、HSIM和HSPICE以及用于符號仿真的ESP-CV。
面臨的挑戰(zhàn)
- 對串?dāng)_延遲進(jìn)行精確的晶體管級分析
隨著設(shè)計尺寸降至90納米及以下,串優(yōu)延遲已經(jīng)占據(jù)了總延遲的25%以上。以前的解決方案包括配備了可選的第三 方串?dāng)_延遲分析的傳統(tǒng)靜態(tài)時序分析,這種解決方案不能提供所需要的精確度和效率。并發(fā)的時序和SI是成功制造 芯片不可或缺的條件。
- 全芯片時序驗(yàn)證
晶體管級和門級電路靜態(tài)時序分析需要協(xié)同工作,以完成全芯片時序驗(yàn)證,而且要求配備PrimeTime以完成無縫和精確的從定制設(shè)計到門級電路的時序分析流程。為了達(dá)到 更高的效率,NanoTime的指令與PrimeTime盡可能保持相同。